如果从光源发出的紫外线在任何地方都是一致的，那么测量起来会简单得多，但事实并非如此。

紫外强度随距离的变化而变化。按理论上讲，如果一个点光源通过非吸收性介质在所有方向上均匀地辐射光，那么辐照度与距离的平方成反比。这只是个理论而已，因为现实中的UVLED既不是标准点光源，也不是在非吸收性介质中传播。

传统的UV灯也不总是单点源。如开篇之图，来自灯的UV光从多个角度撞击辐射计的检测器。辐射计正上方与斜方向的读数是不一样的。这一现象称为余弦偏差。为了正确测量来自不同角度的光线，仪器必须校正探测器与光源之间角度的影响。

角度余弦校正是通过修改探测器和光学元件（如漫射器）的响应来实现的。无论入射角如何，完美的探测器和漫射器组合都具有单位角度余弦校正。对于现有的仪器，光学元件被设计用于实现或复制仪器中的余弦响应。

测量存在的第二个复杂情况是，这些小小的LED在各个方向上发光并不均匀。当前LED光源的光学特性使得决定在哪里最好地测量其UV输出更具挑战性。

最近，LED灯制造商已经开始开发可以再次改变其阵列输出的光学部件，有时以产生更高的辐照度指标为目标。不同制造商开发的光学部件不一样，导致测量UVLED辐照度标准也不一致，更不用说行业标准了。如上图所示，测量位置不一样，甚至相距就几毫米，其测量结果可能会相差很大。在半导体发光处能量可高达70W/cm²，在半球透镜表面减弱到10W/cm²，在照射头出光窗口变为8W/cm²，距离出光窗口5mm，能量便减半。可见不同的测量位置，其测得的差异之大。